Lo spettrometro a fluorescenza a raggi X (XRF) è un metodo di misurazione del materiale rapido e non distruttivo, utilizzato principalmente per fornire analisi chimiche, elementari e di elementi in tracce, con la capacità di quantificare o qualificare in modo non distruttivo quasi tutti gli elementi dal magnesio all'uranio. È ampiamente utilizzato nell'analisi elementare e nell'analisi chimica, in particolare nell'indagine e nella ricerca di metalli, vetro, ceramica e materiali da costruzione, geochimica, medicina legale, archeologia e opere d'arte, come dipinti ad olio e murales. Rispetto ad altre tecniche analitiche, l'XRF richiede poca o nessuna preparazione del campione ed è a basso costo.
